2015年 第76回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

シンポジウム(口頭講演)

シンポジウム » 酸化物半導体の評価技術

[14p-1B-1~9] 酸化物半導体の評価技術

2015年9月14日(月) 13:15 〜 18:00 1B (133+134)

座長:反保 衆志(産総研),山本 哲也(高知工科大)

16:00 〜 16:30

[14p-1B-6] 金属酸化物の原子レベル電子状態評価

〇一杉 太郎1 (1.東北大学 AIMR)

キーワード:酸化物、走査トンネル顕微鏡、STM

物質中の原子一つ一つの詳細な電子状態評価を可能とする実験装置の一つが走査トンネル顕微鏡鏡(STM)であり、様々な物質に適用されて、原子レベルでの電子状態がこれまで明らかにされてきた。我々の研究グループではSTMを用いた金属酸化物単結晶、あるいは薄膜の電子状態研究を進めており、本講演ではβ - Ga2O3やLiCoO2表面に着目し、原子配置と電子状態の関係、あるいは欠陥電子状態について最近の展開を紹介し、物性発現メカニズムの理解や物質開発の展望について議論する。