[16a-2D-5~12] 13.1 Si系基礎物性・表面界面・シミュレーション

[16a-2D-11] 二光子吸収過程を用いた半導体デバイスにおける電荷収集

〇井辻 宏章^1,2、小林 大輔^1,2、廣瀬 和之^1,2 (1.東大院工、2.JAXA宇宙研)

キーワード：ソフトエラー、二光子吸収