2016年 第77回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

一般セッション(ポスター講演)

13 半導体 » 13.4 Si系プロセス・Si系薄膜・配線・MEMS・集積化技術

[14p-P5-1~13] 13.4 Si系プロセス・Si系薄膜・配線・MEMS・集積化技術

2016年9月14日(水) 13:30 〜 15:30 P5 (展示ホール)

13:30 〜 15:30

[14p-P5-11] 第一原理計算を用いたSi中のドーパント近傍の金属原子の拡散経路とエネルギー障壁に関する研究

〇(M2)山田 惇弘1、末岡 浩治1 (1.岡山県大情報工)

キーワード:半導体、ゲッタリング、第一原理計算

本研究では,LSIで用いられる5種類の金属について,ゲッタリングサイトとの結合エネルギーと拡散障壁を第一原理計算により評価することで,ゲッタリングのメカニズムの解明を目的とした.主要な結果は以下の通りである.
(1) 64原子モデル中に4つの拡散経路が存在し,それぞれの拡散障壁は互いに異なっている.
(2)ドーパントの周囲には複数のトラップサイトが存在する場合がある.たとえばFeは必ずしもBの第一近接ではなく,それ以外のサイトにもある程度の存在確率を持つ