[22a-W331-1~12] 16.1 基礎物性・評価・プロセス・デバイス

[22a-W331-8] Ge-Sb-Te薄膜におけるファラデー電流と抵抗スイッチ現象の共存

〇今西 佑典¹、中岡 俊裕¹ (1.上智大理工)

キーワード：Ge-Sb-Te