2017年第64回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(ポスター講演)

6 薄膜・表面 » 6.3 酸化物エレクトロニクス

[15p-P3-1~26] 6.3 酸化物エレクトロニクス

2017年3月15日(水) 13:30 〜 15:30 P3 (展示ホールB)

13:30 〜 15:30

[15p-P3-13] VO2/TiN/Ti/Si積層構造デバイスにおけるマルチステップ発振

青戸 智寛1、佐藤 賢太1、モハメッドシュルズ ミヤ1、沖村 邦雄1 (1.東海大学工)

キーワード:二酸化バナジウム

二酸化バナジウム(VO2)は, 比較的低い温度である68°C付近の温度で絶縁体-金属相転移(IMT)を示す. 近年, 私たちは多結晶的TiN/Ti導電層膜上のVO2薄膜の多結晶成長について報告してきた. 本研究ではTiN(111)面が配向したTiN/Ti導電層膜を導入し, その上へのVO2薄膜の配向成長に成功した. また, 作製したVO2/TiN/Ti デバイスを用いて, 今までに報告されてきたVO2による自励発振特性とは異なる特性が得られた. 講演ではVO2の成長と自励発振現象について発表する.