[16a-512-1~8] 薄膜・多層膜の界面イメージング

[16a-512-8] [講演奨励賞受賞記念講演] X線反射率法によるミクロ相分離単分子膜の構造解析

〇枝 真住¹、奈須野 恵理¹、加藤 紀弘¹、飯村 兼一¹ (1.宇都宮大院工)

キーワード：Langmuir-Blodgett膜、ミクロ相分離、X線反射率法

発表者らはLangmuir-Blodgett法により作製された混合単分子膜におけるミクロ相分離構造を二次元鋳型としてシリカ前駆体の垂直成長構造体（VGS）が位置選択的に数十nmの高さまで成長することを見出している。本研究では、VGSの面内配置の設計図となる相分離単分子膜における分子充填構造をX線反射率測定によって解析した。混合単分子膜における各成分分子は、それぞれの純成分単分子膜における分子配向と密度のままに相分離して存在していることが示唆された。