[16a-F205-1~11] 11.4 アナログ応用および関連技術

[16a-F205-9] STM-SQUID顕微鏡の距離変調による試料表面上の局所磁場計測(2)

〇横町 伝¹、宮戸 祐治¹ (1.阪大基礎工)

キーワード：SQUID顕微鏡

STM-SQUID顕微鏡で取得した従来の磁場像は、試料上方からの磁場の影響により、定量性に欠けていた。そこで、試料とプローブ間の距離を振動的に変調させ、出力信号を同期検波する距離変調法を採用した。結果、試料上方の磁場の影響が低減され、定量的な局所磁場分布が観察できた。また、距離変調方向によって試料上のベクトル的磁場成分を分離できる可能性を見出し、実際の観察でもその可能性を確かめることができた。