2017年第64回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(ポスター講演)

12 有機分子・バイオエレクトロニクス » 12.2 評価・基礎物性

[16p-P5-1~17] 12.2 評価・基礎物性

6.6と12.2のコードシェアセッションあり

2017年3月16日(木) 13:30 〜 15:30 P5 (展示ホールB)

13:30 〜 15:30

[16p-P5-13] 有機TFTのバイアスストレスと光照射の効果

大田 貴士1、青木 勇樹1、西脇 昂汰1、徳田 豊1、阿南 裕穂2、加藤 哲弥2、片山 雅之2 (1.愛知工大、2.(株)デンソー)

キーワード:有機半導体

OTFT特性のバイアスストレスとその熱的及び光照射による回復について、閾値電圧(Vth)のシフトと電流DLTS測定により評価した。ストレスによるVth負シフト、及び熱的回復を観測した。バイアスストレス時にトラップによる正孔捕獲が起き、回復は正孔の熱的放出により生じていると考えた。しかしながら室温での熱的回復条件では、ストレスの効果は残っている。この分は、青色LEDの光照射により回復する。現在、電流DLTS測定を行っている。