2017年第64回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

3 光・フォトニクス » 3.8 光計測技術・機器

[17a-418-1~10] 3.8 光計測技術・機器

2017年3月17日(金) 09:00 〜 11:45 418 (418)

森田 隆二(北大)、渡邉 紳一(慶大)

09:30 〜 09:45

[17a-418-3] 多重反射干渉法の測定限界

滝澤 國治1,2、田中 博1、酒井 寛人1、渡邊 翼1、金 蓮花2 (1.浜松ホトニクス中研、2.山梨大)

キーワード:ファブリ・ペロ干渉、量子的測定限界、電気光学効果

反射鏡を持たないファブリ・ペロ干渉に類似した多重反射干渉法(MRI)は、高感度、単純な光学系および容易な計測など多くの利点を有している。367 kVの半波長電圧をもつY-カットLiTaO3結晶に5 mVの交流電圧を加えるMRIによって、30 ナノラジアンの動的位相が初めて計測された。MRIを用いれば光検出器の熱雑音と暗電流が省略される量子的検出限界で動的位相を計測できることが、実験と解析で明らかになった。