2017年第64回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

6 薄膜・表面 » 6.3 酸化物エレクトロニクス

[17p-419-1~10] 6.3 酸化物エレクトロニクス

2017年3月17日(金) 13:30 〜 16:00 419 (419)

木下 健太郎(鳥取大)

14:00 〜 14:15

[17p-419-3] Ni(OH)2前駆体の定電流電気化学堆積と熱処理によるNiO薄膜作製

〇(B)古山 実季1、市村 正也1 (1.名工大)

キーワード:酸化ニッケル、電気化学堆積、水酸化ニッケル

金属酸化物などの透明な伝導性材料はn型の伝導性を取るものがほとんどであるが、NiOは約3.6 eVのワイドバンドギャップをもつ数少ないp型半導体材料である。過去に本研究室より、電気化学堆積(ECD)法によってNi(OH)2を堆積し熱処理することでNiOを作製できる事が報告されている。その際は定電位で堆積をしたが、今回は定電流堆積を行いその電流値を変化させた。そして、気泡発生を伴う大きな電流値で透明、均一な膜が得られることを見出した。