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一般セッション(口頭講演)

12 有機分子・バイオエレクトロニクス » 12.4 有機EL・トランジスタ

[17p-D102-1~19] 12.4 有機EL・トランジスタ

2018年3月17日(土) 13:15 〜 18:30 D102 (56-102)

内田孝幸(東京工芸大)、硯里善幸(山形大)、高田徳幸(産総研)

13:30 〜 13:45

[17p-D102-2] 複合指数関数を用いた輝度減衰曲線解析に及ぼす実験データ長の影響

〇松本怜¹、Le Cong Duy¹、酒井平祐¹、村田英幸¹ (1.北陸先端大先端科技)

キーワード：有機EL、劣化解析