2018年第65回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(ポスター講演)

6 薄膜・表面 » 6.3 酸化物エレクトロニクス

[19p-P5-1~39] 6.3 酸化物エレクトロニクス

2018年3月19日(月) 13:30 〜 15:30 P5 (ベルサール高田馬場)

13:30 〜 15:30

[19p-P5-1] 対向ターゲット式スパッタ法によるWO3膜の高速堆積

安田 洋司1、星 陽一1 (1.東京工芸大工)

キーワード:酸化タングステン、ガスクロミック

WO3膜はガスクロミック特性、エレクトロクロミック特性を示す機能性材料として注目され研究が進められている。我々はWO3膜を金属タングステン(W)ターゲットを酸素―Ar混合ガス中でスパッタする反応性スパッタ法で作製することを検討している。その結果、通常のマグネトロンスパッタ装置を用いた場合には、100 nm/min以上の堆積速度を得ることが困難で、スパッタ中にターゲットから放出される酸素負イオンの基板衝撃により特性が良好な膜を得ることが難しい。そこで、本研究では酸素負イオンによる基板衝撃が起こらない対向ターゲット式スパッタ法を利用して、100 nm/min以上の高堆積速度で良好なガスクロミック特性を持つWO3膜を堆積する方法を検討したので報告する。