2018年第65回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

3 光・フォトニクス » 3.8 光計測技術・機器

[20p-C303-1~11] 3.8 光計測技術・機器

2018年3月20日(火) 13:45 〜 16:45 C303 (52-303)

染川 智弘(レーザー総研)、齊藤 保典(信州大)

14:45 〜 15:00

[20p-C303-5] 光コム2色干渉計を用いた環境ゆらぎによる空気屈折率変動の高精度補正

〇(B)生澤 佳久1、牧野 智大1,2、中嶋 善晶1,2、吴 冠豪3、美濃島 薫1,2 (1.電通大、2.JST,ERATO美濃島知的光シンセサイザ、3.清華大)

キーワード:光コム、干渉計、空気屈折率

光コム2色干渉計を用いた空気屈折率補正において、我々は緩やかな環境下において長期にわたり超高精度な補正に成功した。しかし、急激なゆらぎに対しては制御系の問題から補正することは困難であった。そこで、変動の大きな環境ゆらぎに対しても補正可能なシステムの構築を目指して研究を行った。その結果ppm相当の急激な環境ゆらぎに対して10^-9オーダーでの高精度補正に成功した。これにより本手法の更なる実用性向上を達成した。