11:00 〜 11:15 △ [20a-E318-8] DPC STEMを用いたGaN系半導体ヘテロ界面電場直接観察 〇(M2)遠山 慧子1、関 岳人1、蟹谷 裕也2、工藤 喜弘2、冨谷 茂隆2、幾原 雄一1,3、柴田 直哉1,3 (1.東大工、2.ソニー、3.JFCCナノ研)