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[18a-PB3-36] ECR-MBE法を用いたMoS2上へのGaN薄膜成長
キーワード:GaN、MoS2、MBE
本研究では、原子層半導体2H-MoS2上へのGaN結晶成長を試みた。六方晶構造を持つ2H-MoS2は、GaNとのa軸格子定数差が0.8 %と小さく、ダングリングボンドがない層状材料としての特徴に加え、疑似的なホモエピタキシャル効果が働く基板として期待される。結果、MoS2上でGaN微結晶が多数コアレッセンスし、薄膜状に成長した様子が観察された。発表では、ラマン分光や発光測定による物性評価の結果も含め、グラフェン上での成長結果との比較検討も行う。