2019年第80回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

一般セッション(ポスター講演)

15 結晶工学 » 15.4 III-V族窒化物結晶

[18a-PB3-1~47] 15.4 III-V族窒化物結晶

2019年9月18日(水) 09:30 〜 11:30 PB3 (第二体育館)

09:30 〜 11:30

[18a-PB3-36] ECR-MBE法を用いたMoS2上へのGaN薄膜成長

大江 佑京1、毛利 真一郎1、名西 憓之1、荒木 努1 (1.立命館大理工)

キーワード:GaN、MoS2、MBE

本研究では、原子層半導体2H-MoS2上へのGaN結晶成長を試みた。六方晶構造を持つ2H-MoS2は、GaNとのa軸格子定数差が0.8 %と小さく、ダングリングボンドがない層状材料としての特徴に加え、疑似的なホモエピタキシャル効果が働く基板として期待される。結果、MoS2上でGaN微結晶が多数コアレッセンスし、薄膜状に成長した様子が観察された。発表では、ラマン分光や発光測定による物性評価の結果も含め、グラフェン上での成長結果との比較検討も行う。