2019年第80回応用物理学会秋季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

6 薄膜・表面 » 6.6 プローブ顕微鏡

[19a-C310-1~12] 6.6 プローブ顕微鏡

2019年9月19日(木) 09:00 〜 12:15 C310 (C310)

杉本 宜昭(東大)、笹原 亮(神戸大)

10:45 〜 11:00

[19a-C310-7] nc-AFMで検出するGe/Si(111)表面原子とSi探針間に働く化学結合力と散逸エネルギー

新井 豊子1、辻 繁樹1、藏 大輝1、敷地 汰一1、富取 正彦2 (1.金沢大院自然、2.北陸先端大院)

キーワード:非接触原子間力顕微鏡、散逸エネルギー

我々は、Si(111)-(7×7)表面のnc-AFM像でSi吸着原子は静止して見えるが,隣接のホローサイトとの間で移動・戻りを繰り返し、力学エネルギーが散逸する現象を報告している。また、GeとSiが混在するGe/Si(111)-(5×5)表面でも同様なエネルギー散逸を捉えた。今回、ホローサイトでエネルギーが散逸する場合と、原子直上でエネルギーが散逸する場合について探針の電子状態を含めて検討した。