[19p-C309-1~16] 13.6 ナノ構造・量子現象・ナノ量子デバイス

[19p-C309-15] PEEMを用いたZnOナノロッドの電界放出特性評価

〇(M1)河本 雅弥¹、工藤 雅嗣²、水野 潤一¹、Mebert Jeem¹、渡辺 精一¹、朝倉 清高¹ (1.北大、2.管製作所)

キーワード：酸化亜鉛ナノロッド、電界放出、光電子顕微鏡（PEEM)

我々はZnOナノロッドアレイの電界放出特性を各部分ごとに区別して評価する手段として、光電子顕微鏡（PEEM）を提案する。PEEMとは紫外光照射によって生じた光電子を加速し結像する観察手法である。本研究では紫外光を照射せずに、ZnOナノロッドから放出される電界放出電子の結像を試みたが観察できなかった。しかしその後、ロッド先端の電界集中が要因と考えられる仕事関数以下の励起光照射によるPEEM像が観察できた。