[20p-PB4-1~94] 2 放射線（ポスター）

[20p-PB4-78] レーザーパルスを用いたCdTe 放射線検出器のキャリア移動特性計測とバンド構造解析

〇坂井田 晃平¹、中川 央也²、岡 賢治¹、増澤 智昭^1,2、伊藤 哲^1,2、青木 徹^1,2 (1.静岡大院、2.静大電研)

キーワード：CdTe、レーザー

CdTe放射線検出器は長時間の連続動作により性能が劣化するポーラリゼーションと呼ばれる現象が報告されている．本現象はポッケルス効果を利用した測定や，I-V測定により検証が試みられているが，詳細なモデルは未だに議論されている．我々は，レーザーパルスを用いて半導体放射線検出器において重要であるキャリア移動特性の観点からこの現象の解明を試みている．本研究では，出力波形の立ち上がり時間に着目することでキャリア移動特性の位置依存について検討を行い，立ち上がり時間が顕著に変化する位置より空乏層幅及びアクセプタ濃度の推定を行った．