2019年第80回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

3 光・フォトニクス » 3.8 光計測技術・機器

[21a-E205-1~12] 3.8 光計測技術・機器

2019年9月21日(土) 09:00 〜 12:15 E205 (E205)

田辺 稔(産総研)、南川 丈夫(徳島大)

12:00 〜 12:15

[21a-E205-12] 遅延線干渉計による光コムの周波数雑音測定の不確かさ評価

和田 雅人1,2,3、大久保 章2,3、洪 鋒雷1,3、稲場 肇1,3 (1.産総研、2.横国大院理工、3.JST, ERATO美濃島知的光シンセサイザ)

キーワード:光ファイバ、光周波数コム、遅延線干渉計

遅延線干渉計を用いて光コムのモードの周波数雑音を測定し、その測定の不確かさ評価を行った。また、従来的な手法である基準レーザとビートを取る手法でもこの光コムのモードの周波数雑音を測定した。遅延線干渉計による測定、及び基準レーザとのビートから測定したコムモードの周波数雑音は不確かさの範囲内で一致し、遅延線干渉計による測定が光コムのモードの周波数雑音の評価方法として信頼できるものであることが確認できた。