[21a-E205-1~12] 3.8 光計測技術・機器

[21a-E205-2] レーザー溶接計測のための高繰返し低コヒーレンス干渉計の構築

星川 雅春¹、〇石井 勝弘¹、藤田 拓馬²、金森 雅和²、渡邉 佳子²、出口 貴大²、野村 涼²、芦田 洋三²、長谷川 博² (1.光産創大、2.ナデックスプロダクツ)

キーワード：低コヒーレンス干渉計、時間伸張フーリエ変換、レーザー溶接

繰り返し周波数が28.3MHzの低コヒーレンス干渉計の構築と、レーザー溶接機の加工ヘッドに接続して行った計測結果について報告する。