15:15 〜 15:30 [9p-M121-6] GaN -MOSFETの Hall測定 〇上野 勝典1、松山 秀昭1、田中 亮1、高島 信也1、江戸 雅晴1、堀田 昌宏2、須田 淳2、中川 清和3 (1.富士電機(株)、2.名大院工、3.山梨大)