2019年第66回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(ポスター講演)

3 光・フォトニクス » 3.13 半導体光デバイス

[10p-PB4-1~23] 3.13 半導体光デバイス

2019年3月10日(日) 16:00 〜 18:00 PB4 (武道場)

16:00 〜 18:00

[10p-PB4-13] イメージングエリプソメトリーによるポーラスシリコンの光学定数測定

秋山 泰輝1、飯塚 祐基1、金 蓮花1、近藤 英一1、ジェローズ ベルナール2 (1.山梨大学、2.名古屋大学)

キーワード:ポーラスシリコン、イメージングエリプソメトリー、光学定数

ポーラスシリコン(PS)はフォトルミネッセンスやエレクトロルミネッセンスを持つため発光素子として期待されている.ここでは,イメージングエリプソメトリーを用いてPSナノ構造の光学定数の測定を試みたので,その結果について報告する.