[11a-S222-1~12] 12.4 Organic light-emitting devices and organic transistors

[11a-S222-11] Degradation Analysis of Phosphorescent OLED by Fourier Transform Ion Cyclotron Resonance Imaging Mass Spectrometry

〇Miku Takei¹, Akio Miyazato², Heisuke Sakai¹, Hideyuki Murata¹ (1.JAIST Grad. School of Adv. Sci. and Tech., 2.JAIST Nanocenter)

Keywords:OLED, Degradation Analysis

我々は、蛍光材料やりん光材料を用いた有機EL素子 (OLED) の劣化解析にフーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴質量分析計(FT-ICR MS)用いることで劣化生成物の検出が可能であることを報告した。最近Ir(ppy)₃を発光材料に用いたりん光OLEDの劣化解析にFT-ICR MS装置を用いたイメージング質量分析(IMS)を適用し、Kondakov等が報告したホスト材料由来の劣化物 (3-CCBP; m/z =649.2512)を検出した。本研究では、3-CCBP以外に劣化の進行に伴って増加する物質を検出し、そのイメージングMS画像からりん光OLEDの劣化機構に関する新たな知見が得られたので報告する。