[8p-Z26-1~23] 16.1 基礎物性・評価・プロセス・デバイス

[8p-Z26-5] アモルファス硫化ゲルマニウムへの銀の光拡散―XAFSおよびXPS測定による局所構造の研究

〇坂口 佳史¹、馬場 祐治²、Ahmed Simon Al-Amin³、Mitkova Maria³ (1.CROSS、2.JAEA、3.ボイジー州立大)

キーワード：アモルファスカルコゲナイド, 銀の光拡散, X線吸収微細構造

我々はアモルファスカルコゲナイド薄膜への銀の光拡散現象における反応カイネ ティクスを明らかにするため、時間分解中性子反射率測定を行い、さらに励起光波長依存 性についても調べてきた。本講演では、異なる波長の光を照射した試料について、X線吸 収微細構造、X線光電子分光の測定を行った結果を報告する。