11:15 〜 11:30 [12a-N305-9] シリコン空孔量子センサーによるSiCデバイス内電流誘起磁場の測定 〇山崎 雄一1、増山 雄太1、佐藤 真一郎1、牧野 高紘1、山田 尚人1、佐藤 隆博1、児島 一聡2、土田 秀一3、星乃 紀博3、大島 武1 (1.量研、2.産総研、3.電中研)