09:45 〜 10:00 [12a-N305-4] 光学干渉非接触温度測定法(OICT)を用いた SiC-Schottky Barrier Diode 内部の過渡的温度測定 〇藤本 渓也1、花房 宏明1、佐藤 拓磨1、東 清一郎1 (1.広大先進理工)