2021年第82回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

13 半導体 » 13.1 Si系基礎物性・表面界面・シミュレーション

[10p-N304-1~10] 13.1 Si系基礎物性・表面界面・シミュレーション

2021年9月10日(金) 13:30 〜 16:15 N304 (口頭)

嵯峨 幸一郎(ソニー)、森 伸也(阪大)

15:00 〜 15:15

[10p-N304-6] 二光子吸収過程パルスレーザを用いた重イオン誘起ノイズパルスの入射位置依存性の再現

出口 拓実1,2、小林 大輔2、廣瀬 和之1,2 (1.東大院工、2.宇宙研)

キーワード:ソフトエラー、二光子吸収過程パルスレーザ、過度電流ノイズパルス