[11a-N301-1~11] 6.6 プローブ顕微鏡

[11a-N301-1] 電気化学反応による原子間力顕微鏡の探針再生

〇(PC)小野田 穣¹、長谷川 剛²、杉本 宜昭³ (1.アルバータ大、2.早稲田大、3.東大)

キーワード：原子間力顕微鏡、走査トンネル顕微鏡、混合伝導体

原子間力顕微鏡(AFM)で測定される長距離力は原子レベルコントラストに寄与しないため、鋭い探針を用いることは重要である。我々はAFMのシリコンカンチレバー上に硫化銀探針を準備した。先行研究と同様に、探針を表面に近づけて電流を探針に注入することで、銀の突起を可逆的に析出・収縮させることができた。また、周波数カーブを測定した結果、突起を析出させることで長距離力を低減できることも確認でき、本手法の有用性を示せた。