[13p-S401-1~11] 1.5 計測技術・計測標準

[13p-S401-8] 光コム干渉による実用的精密測長システムの検討

〇松本 弘一¹、増田 秀征² (1.知的光計測処、2.東大工)

キーワード：光コム、タンデム干渉計

本発表では，従来，良く知られたタンデム干渉技術の考えを取り入れた干渉法を発展させ，光コムの特長を引きすことを理論的に検討したので報告する．