2022年第83回応用物理学会秋季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

15 結晶工学 » 15.7 結晶評価,不純物・結晶欠陥

[20p-C202-1~8] 15.7 結晶評価,不純物・結晶欠陥

2022年9月20日(火) 13:30 〜 15:45 C202 (C202)

小島 拓人(名大)、須藤 治生(GWJ)

15:30 〜 15:45

[20p-C202-8] シリコン結晶中の低濃度炭素の測定(25)濃度1013/㎝3台の低温赤外吸収

井上 直久1、奥田 修一1、川又 修一1 (1.大阪公立大放射線センター)

キーワード:シリコン結晶、炭素濃度、赤外吸収

我々はこれまでに1014/㎝3までの炭素濃度の赤外測定法を単結晶、多結晶、室温、低温について確立し、関係者に技術移転や開示してきた。また3x1013/㎝3の室温測定を報告し、IDL8x1013/㎝3を得た。今回1013/㎝3台の低温測定を検討した。妨害吸収を消去することにより約1-15x1013/㎝3の結果を得た。