[22a-P03-1~11] 6.6 プローブ顕微鏡

[22a-P03-7] 電圧パルス走査プローブ顕微鏡を用いた局所仕事関数の計測

〇日笠 響貴¹、村田 笑子¹、勝部 大樹²、阿部 真之³、稲見 栄一¹ (1.高知工大院工、2.理研、3.阪大院基礎工)

キーワード：走査型プローブ顕微鏡、仕事関数

仕事関数は、固体表面/界面の電子挙動を支配する基本的な量であると同時に、ディスプレイや太陽電池をはじめ、様々な電子/光電子デバイスの特性を左右する応用上重要な量でもある。本研究では、走査トンネル顕微鏡と原子間力顕微鏡の原理を応用して、表面の局所仕事関数を直接かつ定量的に計測可能な手法(パルス走査プローブ顕微鏡法)を提案する。