2023年第70回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

13 半導体 » 13.3 絶縁膜技術

[16p-B508-1~17] 13.3 絶縁膜技術

2023年3月16日(木) 13:00 〜 17:45 B508 (2号館)

田岡 紀之(名大)、山本 芳樹(ルネサスエレクトロニクス)

13:00 〜 13:30

[16p-B508-1] [第44回優秀論文賞受賞記念講演] HfO2-ZrO2 Nanolaminate構造における強誘電相の生成促進

右田 真司1、太田 裕之1、浅沼 周太郎1、森田 行則1、鳥海 明2 (1.産総研、2.東大)

キーワード:強誘電体、ハフニア、ラミネート構造

半導体プロセスとの整合性に優れたHfO2系強誘電体は、ロジックとメモリが融合する次世代情報処理システムへの活用が期待されている。強誘電性発現が報告された最初の報告以来、材料・プロセス・デバイスの研究を通して多くの知見が得られているが、その中でも鍵になるのがプロセスである。成膜方法、ドーピング、熱処理、さらには電極界面処理、これらを組み合わせて最適化することがHfO2系強誘電体材料の性能を引き出す上で欠かせない。本報告では、結晶相の変化に着目した我々の研究を紹介させていただく。