[17a-A502-1~8] 3.7 光計測技術・機器（旧3.8）

[17a-A502-8] 2D シングルショット光断層計測における高速化と広い計測範囲の両立

〇福田 渓人¹、村澤 聡笑²、塩田 達俊¹ (1.埼大理工、2.埼玉大工)

キーワード：光干渉