2016年第63回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(ポスター講演)

13 半導体 » 13.4 Si系プロセス・Si系薄膜・配線・MEMS・集積化技術

[21p-P17-1~26] 13.4 Si系プロセス・Si系薄膜・配線・MEMS・集積化技術

2016年3月21日(月) 16:00 〜 18:00 P17 (屋内運動場)

16:00 〜 18:00

[21p-P17-26] エナジーハーベスト用ショットキーダイオードの検討その2

宮地 晃平1、松野下 誠1、岸川 諒子2,3、吉田 賢史4、嘉数 誠5、堀部 雅弘3、西川 健二郎4、岩室 光則6、川﨑 繁男1,2 (1.宇宙航空研究開発機構宇宙研、2.総研大、3.産総研、4.鹿児島大、5.佐賀大、6.日立化成(株))

キーワード:ショットキーバリアダイオード、熱拡散法

我々は、HySIC(Hybrid Semiconductor Integrated Circuit)デバイスにおいてRFスイッチや整合回路としてCMOSを用いることを検討しており、CMOSデバイスを実現するために、その第1歩として、Siショットキーバリアダイオードの研究開発を行った。Siウェハーは、高抵抗シリコン基板を用い、ホウ素源として用い熱拡散法にて実施した。