2017年第64回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(ポスター講演)

15 結晶工学 » 15.3 III-V族エピタキシャル結晶・エピタキシーの基礎

[17p-P2-1~13] 15.3 III-V族エピタキシャル結晶・エピタキシーの基礎

2017年3月17日(金) 13:30 〜 15:30 P2 (展示ホールB)

13:30 〜 15:30

[17p-P2-4] GaAsN系p+-n+トンネル接合ダイオードを用いた正孔の有効質量の評価

谷口 龍希1、尾高 拓弥1、椎野 直樹1、塚崎 貴司1、日吉 連1、牧本 俊樹1 (1.早大理工)

キーワード:GaAsN、GaNAs、トンネル接合ダイオード

GaAsのAsをNで数%置換したGaAsNは、多接合太陽電池における1 eV帯セルへの応用が検討されている。そして、低いN組成のGaAsNでは、N組成とともに電子に対する有効質量が増加することが報告されており、これに対して、GaAsNの正孔の有効質量はこれまでに報告例がない。前回までに、我々はGaAsN系トンネルダイオード(TD)の作製に成功し、今回はその特性から正孔の有効質量についての考察を行ったので報告する。