2018年第79回応用物理学会秋季学術講演会

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一般セッション(ポスター講演)

13 半導体 » 13.1 Si系基礎物性・表面界面・シミュレーション

[20a-PA3-1~3] 13.1 Si系基礎物性・表面界面・シミュレーション

2018年9月20日(木) 09:30 〜 11:30 PA (イベントホール)

09:30 〜 11:30

[20a-PA3-2] Geのピエゾ抵抗効果(2)

松田 和典1、長岡 史郎2 (1.徳文大理工、2.香川高専電子)

キーワード:半導体、ピエゾ抵抗

半導体のピエゾ抵抗効果が導体のおよそ100倍もあることがSmith によって発見されて以来, Hensel, 長谷川,藤安等により歪サイクロトロン共鳴の実験や,Pikus & Bir, Herring & Vogt, 鈴木・長谷川・神田等による理論的な研究が行われてきた.近年では歪Siは高速RFデバイスやヘテロ構造のデバイス,歪センサ等に使われている.GeはSiに比べて移動度が大きく,次世代の材料として注目されている.しかしこれまでの歪半導体の研究はSiでは多く報告されているが,Geについてはあまり研究されていない.そこで本研究では,Geのピエゾ抵抗効果をモデル化し,デバイス設計に直接利用できるようにする,