[21p-133-1~12] 16.3 シリコン系太陽電池

△ [21p-133-5] n型フロントエミッター型結晶シリコン太陽電池モジュールの電圧誘起劣化に与える光照射の影響

〇(DC)山口 世力¹、増田 淳²、大平 圭介¹ (1.北陸先端大、2.産総研)

キーワード：PID、加速試験、信頼性

本研究では，n型フロントエミッター型結晶シリコン太陽電池のPIDにおける光照射の影響を調査した．反射防止膜中の電荷蓄積に起因する初期のPIDに対しては光照射の影響は見られないが，Na侵入に起因する第2段階目の劣化は光照射によって抑制される傾向にあることがわかった．このPID低減効果は，光照射によって反射防止膜の導電率が向上し，結果としてNaの反射防止膜中でのドリフトが抑制されたことに起因する可能性がある．