[21a-E303-1~12] 2.4 加速器質量分析・加速器ビーム分析

[21a-E303-11] イオンマイクロビーム誘起発光分析を用いたSiAlONシンチレータの評価

〇加田 渉¹、関根 卓洋¹、佐藤 隆博²、横山 彰人^1,2、山田 鈴弥³、三浦 健太¹、神谷 富裕¹、花泉 修¹ (1.群馬大理工、2.量研機構高崎、3.(株)デンカ)

キーワード：荷電粒子誘起発光、SiAlON、顕微分光分析

各種の荷電粒子計測やイオンビーム実験前段階におけるビーム照射品質の評価において、しばしばシンチレータ材料が活用される。荷電粒子向けシンチレータでは検出効率とともに放射線耐久性が重要となる。我々は集束イオンビームを用いて、荷電粒子誘起発光(IBIL)分析により、荷電粒子向けシンチレータの特性評価を実現している。本研究では、3MeV H⁺ マイクロビームをプローブとして、可視域300-950 nmに感度領域を有するIBIL分光分析システムを活用し、シンチレータとしての3種類のサイアロン蛍光体の単一粒子レベルでの発光特性評価を試験した。本分光分析体系において、ビーム視野に焦点を絞った分光光学系を配置することで、蛍光体粉末中の単一粒子やバルク試料局所からの蛍光を測定可能とした。