[E54-60] タングステン材料

[E59] Deuterium Retention and Surface Modification in Toughened, Fine-Grained Recrystallized Tungsten under high-flux irradiation

^〇Makoto Oya¹, Heun Tae Lee¹, Yoshio Ueda¹, Hiroaki Kurishita², Makoto Oyaidzu³, Takumi Hayashi³ (1.Osaka Univ., 2.Institute for Materials Research, Tohoku Univ., 3.JAEA)

Keywords:Plasma facing materials, Tungsten, Hydrogen isotope retention

TFGR W (Toughened Fine-Grained Recrystallized Tungsten)は照射耐性を持つタングステン(W)材料として研究開発されたが、核融合炉内環境下での壁材料としての適性を評価する研究成果は少ないのが現状である。本研究では、TFGR Wに対して、線形プラズマ装置を用いて高いフラックス(10^23 ~ 10^24 D/m^2s)で重水素を注入し、NRAやTDSで重水素吸蔵量を測定する。また、SEMによる表面状態の観察の結果、照射後のTFGR Wの表面に多数のバブル(~0.5µm)が観察された。このような結果から、高フラックス照射環境下でのW材料中の水素同位体挙動を明らかにするとともに、結晶構造や添加物がそれに与える影響も解明する。