[3M01-06] Beam measurement

[3M04] Generation and application of high-brightness electron beam in RF gun based electron microscopy

＊Jinfeng Yang¹, Koichi Kan¹, Takafumi Kondoh¹, Masao Gohdo¹, Yoichi Yoshida¹, Katsumi Tanimura¹ (1.ISIR, Osaka University)

Keywords:Electron microscopy, Electron diffraction, Femtosecond electron beam, Photocathode RF gun

近年、フェムト秒レーザーによる短パルス電子ビームの発生、時間分解電子回折と電子顕微鏡技術が急速に発展されてきており、物質における超高速で進行する構造相転移や反応過程に関する詳細な知見が獲得されつつあります。本大会では、フォトカソード高周波（RF）電子銃を用いたフェムト秒超短パルス電子ビームの高輝度化と、我々が推進している相対論的フェムト秒電子線パルスによる超高速電子回折と電子顕微鏡の開発現状を報告します。