[3J03-07] 再処理工場における安全性向上

[3J04] 高レベル濃縮廃液中のパラジウム効果に関する研究

（3）γ線照射による水素生成量評価

*齋藤 義鷹¹、玉内 義一¹、中野 正直¹、荒井 宣之¹、小川 尚樹²、藤井 秀治²、向井 洋介²、塚本 泰介²、前橋 佑樹²、勝村 庸介³ (1. 日本原燃㈱、2. 三菱重工業㈱、3. 日本アイソトープ協会)

キーワード：高レベル濃縮廃液、パラジウム、水素、γ線、水素生成Ｇ値

模擬高レベル廃液に対して，γ線照射試験を実施し，水素生成G値を評価した。純水及び模擬高レベル廃液の水素生成G値を比較すると，模擬高レベル廃液中ではパラジウムイオンによる水素消費効果（以下パラジウム効果）が生じるため，水素生成G値が純水の1/48以下（撹拌時）であることを確認した。