2020 Fall Meeting

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Oral presentation

II. Radiation, Accelerator, Beam and Medical Technologies » 202-2 Radiation Physics, Radiation Detection and Measurement

[1M09-12] Photon Measurement 2

Wed. Sep 16, 2020 3:55 PM - 5:05 PM Room M (Zoom room 13)

Chair:Hideo Tomita(Nagoya Univ.)

4:10 PM - 4:25 PM

[1M10] Reduction of a false image in the line sensor for backscattered X-ray inspection

*Toshiki Matsue1, Kenichi Watanabe1, Atsushi Yamazaki1, Akira Uritani1, Sachiko Yoshihasi1, Hiroyuki Toyokawa2, Takeshi Fujiwara2, Shinichi Mandai3, Hidenori Isa3 (1. Nagoya Univ., 2. AIST, 3. BEAMX)

Keywords:fabrication detector, X - ray, imaging, back scatter X - ray

老朽化する大型インフラの長期保守管理をより効率的に行うために非破壊で内部情報を取得できる技術の開発が期待されている。X線を用いた非破壊検査の手法の中に後方散乱X線撮像法があり、この手法では被写体の片側にX線源と検出器を設置して検査を行うことができる。本研究においてはコリメータ等の重量物を稼働させることなく一次元プロファイルが取得可能なファンビームX線方式を採用している。本方式の課題として虚像の問題が挙げられている。そこで一次元検出器をファンビームX線の両側に配置することで虚像の減少を図った