[1M09-12] Photon Measurement 2

[1M10] Reduction of a false image in the line sensor for backscattered X-ray inspection

*Toshiki Matsue¹, Kenichi Watanabe¹, Atsushi Yamazaki¹, Akira Uritani¹, Sachiko Yoshihasi¹, Hiroyuki Toyokawa², Takeshi Fujiwara², Shinichi Mandai³, Hidenori Isa³ (1. Nagoya Univ., 2. AIST, 3. BEAMX)

Keywords:fabrication detector, X - ray, imaging, back scatter X - ray

老朽化する大型インフラの長期保守管理をより効率的に行うために非破壊で内部情報を取得できる技術の開発が期待されている。X線を用いた非破壊検査の手法の中に後方散乱X線撮像法があり、この手法では被写体の片側にX線源と検出器を設置して検査を行うことができる。本研究においてはコリメータ等の重量物を稼働させることなく一次元プロファイルが取得可能なファンビームX線方式を採用している。本方式の課題として虚像の問題が挙げられている。そこで一次元検出器をファンビームX線の両側に配置することで虚像の減少を図った