2020年秋の大会

講演情報

一般セッション

II. 放射線工学と加速器・ビーム科学および医学利用 » 202-2 放射線物理,放射線計測

[1M09-12] ガンマ線・X線測定2

2020年9月16日(水) 15:55 〜 17:05 M会場 (Zoomルーム13)

座長:富田 英生(名大)

16:10 〜 16:25

[1M10] 後方散乱X線検査用大型一次元検出器の虚像に関する検討

*松江 俊樹1、渡辺 賢一1、山崎 淳1、瓜谷 章1、吉橋 幸子1、豊川 弘之2、藤原 健2、萬代 新一3、伊佐 英範3 (1. 名大、2. 産総研、3. BEAMX)

キーワード:検出器製作、X線、イメージング、後方散乱X線

老朽化する大型インフラの長期保守管理をより効率的に行うために非破壊で内部情報を取得できる技術の開発が期待されている。X線を用いた非破壊検査の手法の中に後方散乱X線撮像法があり、この手法では被写体の片側にX線源と検出器を設置して検査を行うことができる。本研究においてはコリメータ等の重量物を稼働させることなく一次元プロファイルが取得可能なファンビームX線方式を採用している。本方式の課題として虚像の問題が挙げられている。そこで一次元検出器をファンビームX線の両側に配置することで虚像の減少を図った