[2C01-07] 照射効果1

[2C07] その場WB-STEM計測による中性子照射誘起転位ループの熱的安定性の評価

*吉田 健太¹、杜 玉峰¹、嶋田 雄介¹、鈴土 知明²、荒河 一渡³、外山 健¹、井上 耕治¹、大貫 聡明⁴、永井 康介¹ (1. 東北大学、2. 原研、3. 島根大学、4. 北京科技大)

キーワード：電子顕微鏡、その場焼鈍、格子欠陥、転位

透過電子顕微鏡内のその場焼鈍観察による照射欠陥の熱的安定性評価結果を示す。本発表では、450度の等温焼鈍過程で発見された<100> 型ループによる1/2<111> 型転位のデコレーションとヘリカル化についてg・b解析およびMDシミュレーション結果を示す。