[2L07-08] CCF評価

[2L08] 米国の事前分布評価手法を用いたSRV16弁のCCFパラメータ試評価

*池側 智彦¹、木村 竜介² (1. 日立、2. 日立GE)

キーワード：共通原因故障、不確かさ評価、最小情報ディリクレ事前分布、制約付き無情報事前分布

CCFパラメータの不確かさは事前分布の不確かさ幅に強く依存する。本報告では、米国のアイダホ国立研究所（INL）が提唱する最小情報ディリクレ分布を共役事前分布として、SRV16弁のCCFパラメータを試評価した結果を紹介する。