[2H15-18] 検出器および解析法高度化

[2H17] 電気容量遷移による低雑音電流プリアンプ VIEC の広ダイナミックレンジ化

*神野 郁夫¹、西川 潤一郎¹、尾鍋 秀明²、松井 邦彦³ (1. 京大・工、2. レイテック、3. 長崎サーキットデザイン)

キーワード：X線、電流測定、低被ばく、低雑音、コンピュータ断層撮影

一般的な電流プリアンプは放射線が誘起した電流とともに暗電流をも電圧変換するため，雑音レベルが高い．我々は低雑音電流プリアンプVIECを開発し，低被ばくCTへの応用を目指している．VIECでは帰還容量の電圧変化を電流値とするが，オシロスコープによる測定ではダイナミックレンジは2桁程度である．これを3桁に広げるため，測定電流値が高い場合，自動的に大きい帰還容量に切り替わる補助回路を開発した．基礎実験およびVIECに装荷して測定した結果を報告する．