[2M_PL02] Measurement of Muon-induced Soft Error and Its Challenges
半導体デバイスを活用して社会に張り巡らされている情報ネットワークは、DX等今日の高度化されたディジタル時代の重要な社会基盤であり、様々な研究開発がなされている。この中でも半導体デバイスにおけるソフトエラーに関する研究は、デバイスが構築する情報インフラの信頼性に関する知見のベースを提供するものであり、特に環境に普通に存在する宇宙線起因の地表環境放射線（中性子やミュオン）の、半導体ソフトエラーへの影響は、今後極めて重要となると見込まれる。そのため、それぞれの放射線に対するソフトエラーを研究している最前線の研究者、さらにシミュレーション研究を行っている研究者をお招きして、最新の研究結果を報告する。