[1I13-17] ビーム利用・計測

[1I13] 荷電粒子誘起発光分析の測定条件の基礎検討

*近松 優真¹、羽倉 尚人¹、河原林 順¹、渡部 創² (1. 東京都市大学、2. 日本原子力研究開発機構)

キーワード：荷電粒子誘起発光、PIXE分析、都市大タンデム

PIXE分析を補完する技術として荷電粒子誘起発光分析(IBIL)分析がある。IBIL分析はイオンビームによって分析対象の外殻電子を励起し、その緩和過程で発生する数eVの電磁波(荷電粒子誘起発光)を検出し、分析するため化学結合の状態やイオンの価数、結晶性、欠陥に敏感である。この特徴からIBIL分析は地質学の分野や放射線影響の研究などで利用されてきたが、基礎的な測定系についての検討はあまり行われていないため最適な測定条件を目指すための実験を行った。TCU-Tandemを用いてビーム強度と加速粒子のエネルギーをそれぞれ変更した際の発光強度とピーク波長の変化を調べると、測定試料に関わらずビーム強度によって発光強度は変わるものの、ピーク波長への影響はないことが分かった。また、エネルギーについては数MeVの変化では観測できる時間幅（ms）での変化は認められなかった。今後、光学系などを変更して集光効率の向上に向けた実験の検討をしている。