[2E13-17] 荷電粒子入射反応

[2E13] 400 MeV - 3 GeV陽子におけるAl(p,xp)反応の二重微分断面積 (DDX) の測定

(2) 400 MeV 陽子を用いた測定 ―

*明午 伸一郎¹、山口 雄司¹、岩元 大樹¹ (1. JAEA/J-PARC)

キーワード：アルミニウム、(p,xn)反応断面積、二重微分断面積(DDX)、GeV領域、PHITS

J-PARC加速器施設のビームダンプ入口に設置したアルミニウム窓を用いて、Al(p,xp)反応の二重微分断面積 (DDX) の測定を、カウンターテレスコープ型となるプラスチックシンチレータ群とチェレンコフカウンターを用いて行った。陽子電流モニタ―となるカレントトランスフォーマの信号をプリアンプにより増幅と平均化処理により、陽子ビーム強度の測定精度を向上することに成功した。測定で得た結果とPHITSによる計算との比較を議論する。